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SmartRunner OneIQ통합 분석

생산·품질·수율·설비 데이터를 하나로 연결해 통합 모니터링·분석하고, 자연어로 물어보는 제조 통합 분석 플랫폼입니다. 흩어진 데이터를 하나의 파이프라인으로 이어 생산 현황부터 품질·공정 안정성·설비 이상까지 끊김 없이 분석합니다.

통합 분석

생산·품질·수율·설비 한 화면

OneIQ Copilot

자연어 질의 → 표·차트 응답

폐쇄망 · 읽기전용

로컬 LLM으로 안전하게

Wafer Map · SPC · FDC

공정 안정성·설비 이상 분석

-50%

분석 리드타임 (자동화)

+1~2%p

수율 개선 (공정·설비 최적화)

1 Platform

생산·품질·수율·설비 통합

OneIQ Copilot · NEW

메뉴를 몰라도,
자연어로 물어보세요

60개가 넘는 메뉴가 어디 있는지 몰라도 됩니다. 자연어로 질문하면 코파일럿이 필요한 데이터를 찾아 표와 차트로 정리해 답합니다. 데이터 조회·차트는 우리 서버가 처리하고 AI는 질문 이해·문장 작성만 맡는 읽기 전용 방식이라, 인터넷 없는 폐쇄망에서도 안전합니다.

DEMO 로컬 LLM(qwen2.5:7b) · 무료·폐쇄망 · 읽기 전용

자연어 질의폐쇄망 오픈소스 AI읽기 전용 보안표·차트 응답60+ 메뉴 검색

코파일럿 질의

① 자연어로 질문

“어제 생산 실적은?” — 추천 질문 칩으로도 시작.

코파일럿 응답

② 표·차트로 응답

조회 결과를 요약·계산과 함께 시각화해 제시.

Screens

주요 화면

생산 → 품질·수율 → SPC → FDC. 네 영역이 하나의 데이터 파이프라인으로 연결됩니다.

생산 (Production)

생산 종합 현황

생산 종합 현황

생산량·수율·설비 가동률 KPI와 일자별 추세, 저수율 이슈를 한 화면에.

현재 WIP 현황

현재 WIP 현황

공정·상태별 재공 분포를 스냅샷으로 파악.

설비 가동 현황

설비 가동 현황

설비별 가동/유휴/다운·OEE로 활용도 관리.

품질 · 수율 (Quality · YMS)

FAB 수율 현황

FAB 수율 현황

라인·FAB 단위 투입 대비 산출 수율.

불량 데이터 분석

불량 데이터 분석

불량 유형·공정별 파레토로 주요 원인 도출.

Defect Map

Defect Map

웨이퍼 결함을 좌표 맵으로 시각화·비교.

EDS Map

EDS Map

Bin(양불) 맵으로 LOT별 불량 분포 비교.

SPC (통계적 공정관리)

SPC 관리도

SPC 관리도

Xbar-R 관리도로 중심·산포 관리, 규칙 위반 탐지.

공정능력 조회

공정능력 조회

일별 Cp/Cpk 모니터링으로 규격 만족도 확인.

FDC (설비 이상 감지)

FDC 통합 대시보드

FDC 통합 대시보드

종합 현황 + 심각도·설비·센서별 알람 집계.

센서 Trend 분석

센서 Trend 분석

다중 센서를 관리한계와 함께 추세 감시.

센서 상관 분석

센서 상관 분석

상관 매트릭스 셀 클릭 → 산점도·회귀선 (DB 피벗 ~8배 개선).

Create Automation World

데이터로 묻고, 데이터로 답하세요

OneIQ 도입 상담과 데모를 제공해 드립니다.

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